金川 泰三

			Taizo KANAGAWA		M1
			Call on me when you are in the neighborhood. Let's juggle with me.

現所属

• （株）リクルートメデイアコミュニケーションズ

修士論文

• 「マイクロ正方４端子法による表面電気伝導度の異方性測定」(2003年）

投稿論文

1. T. Tanikawa, I. Matsuda, T. Kanagawa, and S. Hasegawa,
   Surface-state electrical conductivity at a metal-insulator transition on silicon,
   Physical Review Letters 93, 016801 (2004).
   
   
2. H. Okino, R. Hobara, I. Matsuda, T. Kanagawa, and S. Hasegawa,
   Non-metallic transport of a quasi-one-dimensional metallic Si(557)-Au surface,
   Physical Review B 70, 113404 (2004).
   
   
3. T. Kanagawa, R. Hobara, I. Matsuda, T. Tanikawa, A. Natori, and S. Hasegawa:
   Anisotropy in conductance of a quasi-one-dimensional metallic surface state measured by square micro-four-point probe method,
   Physical Review Letters 91(3), 036805 (2003).
   
   
4. S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Kanagawa, T. Tanikawa, I. Matsuda, C. L. Petersen, T. M. Hansen, P. Boggild, F. Grey:
   Electrical conduction through surface superstructures measured by microscopic four-point probes,
   Surface Review and Letters 10, 963-980 (2003)..
   
   
5. 長谷川修司、白木一郎、田邊輔仁、保原麗、金川泰三、松田巌：
   ４探針ＳＴＭの開発と表面電子輸送の測定、
   電子顕微鏡　38, 36 (2003).
   
   
6. 長谷川修司、白木一郎、田邊輔仁、保原麗、金川泰三、谷川雄洋、松田巌、Christian L.. Petersen、Torben M. Hanssen、Peter Boggild、Francois Grey:
   ミクロな４端子プローブによる表面電気伝導の測定、
   表面科学 23 (12) (2002) 740-752.

学会発表

1. T. Kanagawa, R. Hobara, S. Hasegawa:
   Performance of Independently Driven Four-Tip STM,
   Dr.Rohrer's JSPS Award Workshop, Dr. Rohrer's JSPS Award Workshop, (2002/March/5, Sendai).
   
   
2. T. Kanagawa, R. Hobara, I. Matsuda, and S. Hasegawa,
   Anisotropic surface conducitvity measurements by microscopic squarely arranged foiur-probe method,
   Asia-Pacific Surface and Interface Analysis Conference (APSIAC02) (2002/Oct/3, Univ. Tokyo).(The Best Poster Award)
   
   
3. R. Hobara, T. Kanagawa, T. Tanikawa, I. Matsuda, and S. Hasegawa,
   Electrical probe contact influence using micro four probe,
   Asia-Pacific Surface and Interface Analysis Conference (APSIAC02) (2002/Oct/3, Univ. Tokyo).
   
   
4. T. Kanagawa, R. Hobara, I. Matsuda, and S. Hasegawa,
   Anisotropy in surface-state electrical conduction measured by microscopic square-four-point probe method,
   The 10th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM10) (2002/Nov/1, Waikiki, Hawaii).
   
   
5. 金川泰三、保原麗、、松田巌、長谷川修司：
   正方４端子法による表面電気伝導度測定、
   日本表面科学会第２２回講演大会、2002年11月28日、早稲田大学.
   
   
6. 保原麗、金川泰三、白木一郎、松田巌、長谷川修司：
   ４探針ＳＴＭによる表面電気伝導測定、
   日本物理学会第５７回年次大会、2002年3月24日（立命館大、滋賀）.
   
   
7. 金川泰三、長尾忠昭、谷川雄洋、長谷川修司：
   アルカリ金属原子吸着 Si(111)-√3×√3-Ag 表面の構造と電気伝導、
   日本物理学会 第５５回年次大会、2000年9月24日（新潟大学）.