北岡 佑介

			北岡 佑介		M2
			名古屋出身です。４探針STMやってます。

在籍　　　　2007/April/1〜2009/March/31

学位論文　　　　カーボンナノチューブ探針を用いたナノワイヤの電気伝導測定（修士論文）

現所属

• （株）豊田自動織機

投稿論文

1. Y. Kitaoka, S. Yoshimoto, T. Hirahara, S. Hasegawa, T. Ohba:
   Nanometer-scale Four-Point Probe Resistance Measurements of Cu Wires Using Carbon Nanotube Tips
   

   Proceedings of Advanced Metallization Conference 2008, Mat. Res. Soc., in press.

   
   

2. Y. Kitaoka, T. Tono, S. Yoshimoto, T. Hirahara, S. Hasegawa, and T. Ohba:
   Direct detection of grain boundary scattering in damascene Cu wires by nanometer-scale four-point probe resistance measurements,
   Appl. Phys. Lett., submitted.
   

学会発表

1. Y. Kitaoka, S. Yoshimoto, T. Hirahara, S. Hasegawa, T. Ohba:
   Nanometer-scale four-point probe resistance measurements of damascene Cu wires in LSI using carbon nanotube tips,
   International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (ISSS-5), 2008年11月11日、早稲田大学.
   
   
2. 北岡佑介、東野剛之、平原徹、長谷川修司:
   金属被覆CNT探針を用いたFeSi_2ナノワイヤーの四端子電気伝導測定,
   日本物理学会第64回年次大会, 2008年3月30日、立教大学.
   
   
3. 東野剛之，北岡佑介，吉本真也，平原徹，大場隆之，長谷川修司:
   金属被覆CNT 探針を用いたダマシン銅ワイヤのナノメーター電気伝導測定,
   日本物理学会第64回年次大会, 2008年3月30日、立教大学.
   
   
4. 吉本真也，北岡佑介，保原麗，平原徹，長谷川修司:
   PtIr被覆カーボンナノチューブ探針を用いたSi(111)-√3×√3 -Ag表面の電気伝導測定
   日本物理学会第62回年次大会 , 2007年9月24日、北海道大.