白木一郎

現所属

  • 産業技術総合研究所 ナノテクノロジー研究部門 研究員(2002.4-2006.3)
  • 山梨大学 大学院医学工学総合研究部電気電子システム工学科 助手(2006.4-)
  • 山梨大学 大学院医学工学総合研究部電気電子システム工学科 准教授(2011.11-)

博士論文

  • 「マイクロおよびナノ4端子プローブ法による局所表面電気伝導の研究」

投稿論文

  1. S. Hasegawa, N. Sato, I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild, T. M. Hansen, T. Nagao, F. Grey:
    Surface-state Bands on silicon : Si(111)-√3×√3-Ag surface superstructure :
    Japanese Journal of Applied Physics 39, 3815-3822 (2000).

  2. F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, S. Hasegawa:
    Diffusion Anisotropy of Ag and In on Si(111) Surface Studied by UHV-SEM,
    Ultramicroscopy 85, 23-33 (2000).

  3. F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, and S. Hasegawa:
    Substrate-structure dependence of Ag electromigration on Au-precovered Si(111) surfaces,
    Japanese Journal of Applied Physics 39, 4438-4442 (2000).

  4. I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Bøggild, T. M. Hansen, T. Nagao, F. Grey, and S. Hasegawa:
    Micro-four-point probes in an UHV-scanning electron microscope for in-situ surface conductivity measurements,
    Surface Review and Letters 7, 533-537 (2000)

  5. C. L. Petersen, F. Grey, I. Shiraki, S. Hasegawa:
    Microfour-point probe for studying electronic transport through surface states,
    Appllied Physics Letters 77, 3782-3784 (2000).

  6. F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, and S. Hasegawa:
    Electromigration and phase transformation of Ag on a Cu-precovered Si(111) surface,
    Surface Science 493 (2001) 331-337.

  7. I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, and S. Hasegawa:
    Independently driven four-tip probes for conductivity measurements in ultrahigh vacuum,
    Surface Science 493 (2001) 633-643.

  8. 長谷川修司、白木一郎、田邊輔仁、Francois Grey:
    半導体表面での電子輸送 : 点接触トランジスタから多探針STM ,
    応用物理 70 (2001) 1165-1171.

  9. S. Hasegawa, I. Shiraki, T. Tanikawa, C. L. Petersen, T. M. Hansen, P. Goggild, and F. Grey:
    Direct measurement of surface-state conductance by microscopic four-point probe method,
    Journal of Physics: Condensed Matter 14, 8379-8392 (2002).

  10. S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, and R. Hobara:
    Transport at surface nanostructures measured by four-tip STM,
    Current Applied Physics 2, 465-471 (2002).

  11. S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Kanagawa, T. Tanikawa, I. Matsuda, C. L. Petersen, T. M. Hansen, P. Boggild, F. Grey:
    Electrical conduction through surface superstructures measured by microscopic four-point probes,
    Surface Review and Letters 10, 963-980 (2003).

  12. T. M. Hansen, K. Stokbro, O. Hansen, T. Hassenkam, I. Shiraki, S. Hasegawa, P. Boggild,
    Resolution enhancement of scanning four-point probe measurement on 2D systems,
    Review of Scientific Instruments, 74(8), 3701-3708 (August, 2003).

学会発表

  1. S. Hasegawa, I. Shiraki, C. L. Petersen, F. Grey, T. M. Hansen, P. Bøggild, T. Tanikawa, F. Tanabe, and T. Nagao:
    Microscopic four-point probes for surface conductivity measurements,
    251st WE-Heraeus Seminar on 2D Conductivity in Surface States and Monolayers, 2001年3月5日(Bad Honnef, Germany).

  2. I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, and S. Hasegawa:
    Independently driven four-tip UHV-STM,
    251st WE-Heraeus Seminar on 2D Conductivity in Surface States and Monolayers,
    2001年3月6日(Bad Honnef, Germany).

  3. S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. M. Hansen, and F. Grey:
    Surface-state electronic transport measured by microscopic four-point probes,
    The Symposium on Surface Science 2001, 2001年1月11日(Furano).

  4. 白木一郎、田邊輔仁、保原麗、長尾忠昭、長谷川修司:
    独立駆動型4探針STMによる表面電気伝導の研究
    文部省科学研究費補助金創成的基礎研究費「表面・界面-異なる対称性の接点の物性」
    平成12年度 年度末研究報告会、2001年1月27日(東工大).

  5. 田邊輔仁、白木一郎、保原麗、長尾忠昭、長谷川修司:
    独立駆動型四探針STM装置による表面電気伝導の測定
    日本物理学会 第56回年次大会、2001年3月28日(中央大学).

  6. 谷川雄洋、白木一郎、長尾忠昭、長谷川修司:
    マイクロ4端子法による電気伝導の測定
    日本物理学会 第56回年次大会、2001年3月28日(中央大学).

  7. I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Bøggild, T. M. Hansen, T. Nagao, F. Grey, and S. Hasegawa:
    Micro-four-point probes for surface-sensitive conductivity measurements,
    10th International Conference on Solid Films and Surfaces, 2000年7月12日(Princeton Univ., USA).

  8. I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Bøggild, T. M. Hansen, F. Tanabe, T. Nagao, F. Grey, and S. Hasegawa:
    Electronic transport through surface-state bands,
    25th International Conference on the Physics of Semiconductors, 2000年9月19日(Osaka).

  9. F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, and S. Hasegawa:
    Surface electromigration and phase transformation of Ag and Cu on Si(111) surfaces modified by Au and Cu,
    International Symposium on Surface and Interfaces: Properties of Different Symmetry Crossing,
    2000年10月18日(Nagoya).

  10. I. Shiraki, F. Tanabe, T. Nagao, F. Grey, and S. Hasegawa:
    Surface conductivity measurements by micro- and nano-four-point probes,
    International Symposium on Surface and Interfaces &mslsh;Properties of Different Symmetry Crossing,
    2000年10月18日(Nagoya).

  11. I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, and S. Hasegawa:
    Independently driven four-tip UHV-STM,
    The 8th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy and Asian SPM-3, 2000年12月9日(Atagawa).

  12. 白木一郎、田邊輔仁、保原麗、長尾忠昭、長谷川修司:
    4探針STMの開発とそれによる表面電気伝導の測定、
    科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理」第4回シンポジウム、2000年12月20日 (東京).

  13. 長谷川修司、長尾忠昭、白木一郎:
    マイクロおよびナノ4端子法による局所表面電気伝導の測定
    文部省科学研究費補助金創成的基礎研究費「表面・界面 : 異なる対称性の接点の物性」研究会、
    2000年1月28日 (東京工業大学).

  14. S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. Nagao, and F. Grey:
    Conductivity measurements in micro- and nanometer-scale regions on surfaces,
    The 4th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces, 2000年11月13日(Nagoya).

  15. 白木一郎、田邊輔仁、長尾忠昭、長谷川修司:
    独立駆動型4端子STMによる表面電気伝導の測定
    日本物理学会春の年会、2000年3月23日 (関西大学).

  16. S. Hasegawa, I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild, T. Hansen, and F. Grey:
    Micro-four-point probes for local surface conductivity measurements in UHV,
    International Symposium on Surface Science for Micro- and Nano-Device Fabrication (ISSS-3),
    1999年11月30日 (Tokyo, Japan).

  17. S. Hasegawa, F. Shi, I. Shiraki, and T. Nagao:
    Surface electromigration of Ag and In atoms on Au-induced superstructures on Si(111),
    International Symposium on Surface Science for Micro- and Nano-Device Fabrication (ISSS-3),
    1999年11月30日 (Tokyo, Japan).

  18. 白木一郎、長尾忠昭、長谷川修司:
    マイクロおよびナノ4端子プローブ法による局所表面電気伝導の研究
    科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理現象領域: 人工ナノ構造の機能探索」
    青野グループ研究会、1999年8月27日 (箱根).

  19. 白木一郎、田邊輔仁、 P. Boggild、C. L. petersen、 F. Grey、長尾忠昭、長谷川修司:
    μ-4 probe 内蔵 UHV-SEM-SREM による表面電気伝導のその場観察
    日本物理学会秋の分科会,1999年9月25日(岩手大学).

  20. 長谷川修司、長尾忠昭、白木一郎、 C. L. Petersen、P. Boggild、T. Hansen、F. Grey:
    局所表面電気伝導の測定 : マイクロ4端子プローブと4探針STM
    科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理」第3回シンポジウム、1999年12月21日 (東京).

  21. F. X. Shi, 白木一郎、長尾忠昭、長谷川修司:
    Electromigration of Ag on Au covered Si(111) surface studied by µ-probe RHEED and SEM
    日本物理学会秋の分科会、1998年9月27日(沖縄国際大学).

  22. 白木一郎、鳥山啓之亮、長尾忠昭、長谷川修司:
    UHV-SEM-SREM-RHEED-STM によるSi(111)-(Ag+Au) 二次元表面合金相の形成過程の観察
    日本物理学会 春の年会、1998年3月31日 (日本大学).

  23. 白木一郎、鳥山啓之亮、長尾忠昭、長谷川修司:
    UHV-SEM/SREM によるSi(111)-√21×√21-(Ag+Au) の形成過程の観察
    日本物理学会 秋の分科会、1997年10月7日 (神戸大学).

  24. 白木一郎、鳥山啓之亮、長尾忠昭、長谷川修司:
    SEM-SREM-RHEEDによるSi(111)-(Ag+Au)二元表面合金相の形成過程の観察
    創成的基礎研究「表面・界面 --- 異なる対称性の接点の物性 ---」
    平成9年度第2回研究会、1997年10月25日(東京工業大学).

  25. I. Shiraki、K. Toriyama、T. Nagao、S. Hasegawa:
    Observation of Si(111)-√21×√21-(Ag+Au) formation process by UHV-SEM/SREM
    Japan-Germany Seminar on Mechanisms of Epitaxy and Properties of Coherent Thin Films,
    1997年9月29日(日光).

e-Mail: shiraki@eva.hi-ho.ne.jp