白木一郎
現所属
- 産業技術総合研究所 ナノテクノロジー研究部門 研究員(2002.4-2006.3)
- 山梨大学 大学院医学工学総合研究部電気電子システム工学科 助手(2006.4-)
- 山梨大学 大学院医学工学総合研究部電気電子システム工学科 准教授(2011.11-)
博士論文
- 「マイクロおよびナノ4端子プローブ法による局所表面電気伝導の研究」
投稿論文
- S. Hasegawa, N. Sato, I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild, T. M. Hansen,
T. Nagao, F. Grey:
Surface-state Bands on silicon : Si(111)-√3×√3-Ag surface
superstructure :
Japanese Journal of Applied Physics 39, 3815-3822 (2000).
- F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, S. Hasegawa:
Diffusion Anisotropy of Ag and In on Si(111) Surface Studied by UHV-SEM,
Ultramicroscopy 85, 23-33 (2000).
- F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, and S. Hasegawa:
Substrate-structure dependence of Ag electromigration on Au-precovered
Si(111) surfaces,
Japanese Journal of Applied Physics 39, 4438-4442 (2000).
- I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Bøggild, T. M. Hansen, T. Nagao,
F. Grey, and S. Hasegawa:
Micro-four-point probes in an UHV-scanning electron microscope for in-situ surface conductivity measurements,
Surface Review and Letters 7, 533-537 (2000)
- C. L. Petersen, F. Grey, I. Shiraki, S. Hasegawa:
Microfour-point probe for studying electronic transport through surface
states,
Appllied Physics Letters 77, 3782-3784 (2000).
- F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, and S. Hasegawa:
Electromigration and phase transformation of Ag on a Cu-precovered Si(111)
surface,
Surface Science 493 (2001) 331-337.
- I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, and S. Hasegawa:
Independently driven four-tip probes for conductivity measurements in ultrahigh
vacuum,
Surface Science 493 (2001) 633-643.
- 長谷川修司、白木一郎、田邊輔仁、Francois Grey:
半導体表面での電子輸送 : 点接触トランジスタから多探針STM ,
応用物理 70 (2001) 1165-1171.
- S. Hasegawa, I. Shiraki, T. Tanikawa, C. L. Petersen, T. M. Hansen, P.
Goggild, and F. Grey:
Direct measurement of surface-state conductance by microscopic four-point
probe method,
Journal of Physics: Condensed Matter 14, 8379-8392 (2002).
- S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, and R. Hobara:
Transport at surface nanostructures measured by four-tip STM,
Current Applied Physics 2, 465-471 (2002).
- S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Kanagawa, T. Tanikawa,
I. Matsuda, C. L. Petersen, T. M. Hansen, P. Boggild, F. Grey:
Electrical conduction through surface superstructures measured by microscopic
four-point probes,
Surface Review and Letters 10, 963-980 (2003).
- T. M. Hansen, K. Stokbro, O. Hansen, T. Hassenkam, I. Shiraki, S. Hasegawa,
P. Boggild,
Resolution enhancement of scanning four-point probe measurement on 2D systems,
Review of Scientific Instruments, 74(8), 3701-3708 (August, 2003).
学会発表
- S. Hasegawa, I. Shiraki, C. L. Petersen, F. Grey, T. M. Hansen, P. Bøggild,
T. Tanikawa, F. Tanabe, and T. Nagao:
Microscopic four-point probes for surface conductivity measurements,
251st WE-Heraeus Seminar on 2D Conductivity in Surface States and Monolayers,
2001年3月5日(Bad Honnef, Germany).
- I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, and S. Hasegawa:
Independently driven four-tip UHV-STM,
251st WE-Heraeus Seminar on 2D Conductivity in Surface States and Monolayers,
2001年3月6日(Bad Honnef, Germany).
- S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. M. Hansen, and F. Grey:
Surface-state electronic transport measured by microscopic four-point probes,
The Symposium on Surface Science 2001, 2001年1月11日(Furano).
- 白木一郎、田邊輔仁、保原麗、長尾忠昭、長谷川修司:
独立駆動型4探針STMによる表面電気伝導の研究、
文部省科学研究費補助金創成的基礎研究費「表面・界面-異なる対称性の接点の物性」
平成12年度 年度末研究報告会、2001年1月27日(東工大).
- 田邊輔仁、白木一郎、保原麗、長尾忠昭、長谷川修司:
独立駆動型四探針STM装置による表面電気伝導の測定、
日本物理学会 第56回年次大会、2001年3月28日(中央大学).
- 谷川雄洋、白木一郎、長尾忠昭、長谷川修司:
マイクロ4端子法による電気伝導の測定、
日本物理学会 第56回年次大会、2001年3月28日(中央大学).
- I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Bøggild, T. M. Hansen, T. Nagao,
F. Grey, and S. Hasegawa:
Micro-four-point probes for surface-sensitive conductivity measurements,
10th International Conference on Solid Films and Surfaces, 2000年7月12日(Princeton
Univ., USA).
- I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Bøggild, T. M. Hansen, F. Tanabe,
T. Nagao, F. Grey, and S. Hasegawa:
Electronic transport through surface-state bands,
25th International Conference on the Physics of Semiconductors, 2000年9月19日(Osaka).
- F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, and S. Hasegawa:
Surface electromigration and phase transformation of Ag and Cu on Si(111)
surfaces modified by Au and Cu,
International Symposium on Surface and Interfaces: Properties of Different
Symmetry Crossing,
2000年10月18日(Nagoya).
- I. Shiraki, F. Tanabe, T. Nagao, F. Grey, and S. Hasegawa:
Surface conductivity measurements by micro- and nano-four-point probes,
International Symposium on Surface and Interfaces &mslsh;Properties
of Different Symmetry Crossing,
2000年10月18日(Nagoya).
- I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, and S. Hasegawa:
Independently driven four-tip UHV-STM,
The 8th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy and Asian
SPM-3, 2000年12月9日(Atagawa).
- 白木一郎、田邊輔仁、保原麗、長尾忠昭、長谷川修司:
4探針STMの開発とそれによる表面電気伝導の測定、
科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理」第4回シンポジウム、2000年12月20日 (東京).
- 長谷川修司、長尾忠昭、白木一郎:
マイクロおよびナノ4端子法による局所表面電気伝導の測定、
文部省科学研究費補助金創成的基礎研究費「表面・界面 : 異なる対称性の接点の物性」研究会、
2000年1月28日 (東京工業大学).
- S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. Nagao, and F. Grey:
Conductivity measurements in micro- and nanometer-scale regions on surfaces,
The 4th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces, 2000年11月13日(Nagoya).
- 白木一郎、田邊輔仁、長尾忠昭、長谷川修司:
独立駆動型4端子STMによる表面電気伝導の測定、
日本物理学会春の年会、2000年3月23日 (関西大学).
- S. Hasegawa, I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild, T. Hansen, and F.
Grey:
Micro-four-point probes for local surface conductivity measurements in
UHV,
International Symposium on Surface Science for Micro- and Nano-Device Fabrication
(ISSS-3),
1999年11月30日 (Tokyo, Japan).
- S. Hasegawa, F. Shi, I. Shiraki, and T. Nagao:
Surface electromigration of Ag and In atoms on Au-induced superstructures
on Si(111),
International Symposium on Surface Science for Micro- and Nano-Device Fabrication
(ISSS-3),
1999年11月30日 (Tokyo, Japan).
- 白木一郎、長尾忠昭、長谷川修司:
マイクロおよびナノ4端子プローブ法による局所表面電気伝導の研究、
科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理現象領域: 人工ナノ構造の機能探索」
青野グループ研究会、1999年8月27日 (箱根).
- 白木一郎、田邊輔仁、 P. Boggild、C. L. petersen、 F. Grey、長尾忠昭、長谷川修司:
μ-4 probe 内蔵 UHV-SEM-SREM による表面電気伝導のその場観察、
日本物理学会秋の分科会,1999年9月25日(岩手大学).
- 長谷川修司、長尾忠昭、白木一郎、 C. L. Petersen、P. Boggild、T. Hansen、F. Grey:
局所表面電気伝導の測定 : マイクロ4端子プローブと4探針STM、
科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理」第3回シンポジウム、1999年12月21日 (東京).
- F. X. Shi, 白木一郎、長尾忠昭、長谷川修司:
Electromigration of Ag on Au covered Si(111) surface studied by µ-probe
RHEED and SEM、
日本物理学会秋の分科会、1998年9月27日(沖縄国際大学).
- 白木一郎、鳥山啓之亮、長尾忠昭、長谷川修司:
UHV-SEM-SREM-RHEED-STM によるSi(111)-(Ag+Au) 二次元表面合金相の形成過程の観察、
日本物理学会 春の年会、1998年3月31日 (日本大学).
- 白木一郎、鳥山啓之亮、長尾忠昭、長谷川修司:
UHV-SEM/SREM によるSi(111)-√21×√21-(Ag+Au) の形成過程の観察、
日本物理学会 秋の分科会、1997年10月7日 (神戸大学).
- 白木一郎、鳥山啓之亮、長尾忠昭、長谷川修司:
SEM-SREM-RHEEDによるSi(111)-(Ag+Au)二元表面合金相の形成過程の観察、
創成的基礎研究「表面・界面 --- 異なる対称性の接点の物性 ---」
平成9年度第2回研究会、1997年10月25日(東京工業大学).
- I. Shiraki、K. Toriyama、T. Nagao、S. Hasegawa:
Observation of Si(111)-√21×√21-(Ag+Au) formation process
by UHV-SEM/SREM、
Japan-Germany Seminar on Mechanisms of Epitaxy and Properties of Coherent
Thin Films,
1997年9月29日(日光).
|